TH2829系列自動元件分析儀應用高速處理器和新的軟件系統(tǒng)，使其擁有更高的測試速度、更全面的分析功能和友好的人機交互體驗。精心設計的測量電路和優(yōu)化的算法，進一步提升了低D值電容和高Q值電感的測試穩(wěn)定性。儀器提供的10V交流測試電平、10V/100mA偏置電源和獨立的10V/50mA DC電源，使本儀器可更方便地應用于各種無源/有源器件的測試。雙主副參數(shù)顯示、增強的顯示系統(tǒng)設計、多達150點的列表掃描、多種參數(shù)的圖形分析能力，使儀器能滿足用戶多的應用需求。得益于新一代處理器的應用，使儀器具有了更強大的數(shù)據(jù)處理能力，可將測試結果方便地存儲于U盤或通過多種接口上傳至上位PC或網絡，推進測試自動化，提高測試效率。本機測試頻率為：20Hz-1MHz。具有0.05%的測試準確度、9ms/次的高測試速度。儀器配有HANDLER、USB、LAN、RS232C 、DCI、GPIB（選配）等豐富的接口，無不彰顯豐富的資源，將帶給客戶較好的性價比體驗。TH2829系列元件分析儀可*適用于各種工業(yè)和標準的測試要求。

自動元件分析儀TH2829C

• 應用

• ■無源元件

  電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析

  ■半導體元件

  LED驅動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

  ■其它元件

  印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

  ■介質材料

  塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

  ■磁性材料

  鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

  ■半導體材料

  半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

  ■液晶單元

  介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

■ LCR自動平衡測試理論是美國HP公司一九八幾年提出來的，這是全*好測試方法。自動平衡保證全頻段測試的精度：

■ 普通電橋是使用運放采樣信號，運放缺點輸入端有偏置電流，流過被測件跟流過采樣電阻的電流不一致，電流的誤差是取消不了的，清零是沒用的。

■ 自動平衡不采用運放， 而采用FPGA加高速ADC采樣，另外做了一個信號源同時加在被測件上，來抵消普通LCR這種誤差,用這種方法能保證更高的測試精度跟測試范圍。

■ 目前市面上只有同惠的LCR采用自動平衡測試原理。